IEC(國際電工協(xié)會)是世界上成立很早的非政府性國際電工標準化機構，針對于民生用的電子產(chǎn)品制定相關試驗規(guī)范與測試方法，如：主機板、筆記型電腦、平板電腦、智慧型手機、液晶熒幕、游戲機等，其試驗主要精神都從IEC延伸過來的，其中主要代表就是IEC60068-2，環(huán)境試驗就是指將樣品暴露于自然和人工環(huán)境中，然而對其在實際中遇到的使用、運輸和儲存條件下的性能做出評價，透過規(guī)范的標準使用，以便使該樣品的環(huán)境試驗達到統(tǒng)一而又具再線性。環(huán)境測試可以模擬產(chǎn)品是否能夠適應在不同階段(儲存、運輸、使用)的環(huán)境變化(溫度、濕度、振動、溫度變化、溫度沖擊、鹽霧、粉塵)等，以及驗證產(chǎn)品本身的特性與品質(zhì)不會受到其影響，低溫、高溫、溫度沖擊可以產(chǎn)生機械應力，這種應力使試驗樣品對之后的試驗更為敏感，沖擊、振動可以產(chǎn)生機械應力，這種應力可使樣品立即損壞，空氣壓力、交變濕熱、恆定濕熱、腐蝕應用這些試驗，可以接續(xù)熱與機械應力的試驗影響。
一、測試目的：測試汽車元件、裝備或其他元件產(chǎn)品在低溫環(huán)境下操作及儲存能力。
二、測試方法分為：
1、Aa：不生熱試件之溫度驟變法
2、Ab：不生熱試件之溫度漸變法
3、Ad：生熱試件之溫度漸變法
三、注意事項：
Aa:
1. 靜態(tài)測試(不外加電源)。
2. 先降溫至規(guī)范的指定溫度再放待測試件。
3. 穩(wěn)定后試件上各點溫差不超過±3℃。
4. 測試完成后將試件置于標準大氣壓下，直到完全除霧；移轉(zhuǎn)過程中試件不加電壓。
5. 回復原狀況后(zui少1hr)再進行量測。
Ab:
1. 靜態(tài)測試(不外加電源)。
2. 試件于室溫下置入柜內(nèi)，柜溫的溫度變化每分鐘不超過1℃。
3. 試件于試驗結(jié)束后應留置柜內(nèi)，柜溫的溫度變化每分鐘不超過1℃，回復至標準大氣壓下；變溫期間試件應不加電。
4. 回復原狀況后(zui少1hr)再進行量測。(溫度與空氣溫度相差5℃以上)。
Ac:
1. 動態(tài)測試(外加電源)試件加電后溫度穩(wěn)定時，試件表面zui熱點之溫度。
2. 試件于室溫下置入柜內(nèi)，柜溫的溫度變化每分鐘不超過1℃。
3. 試件于試驗結(jié)束后應留置柜內(nèi)，柜溫的溫度變化每分鐘不超過1℃，回復至標準大氣壓下；變溫期間試件應不加電。
4. 回復原狀況后(zui少1hr)再進行量測。
四、試驗條件：
1. 溫度：-65,-55,-40,-25,-10,-5,+5℃。
2. 駐留時間：2/16/72/96小時。
3. 溫變率：每分鐘不超過1℃。
4. 容許誤差：±3℃。
五、試驗設置：
1. 生熱試件應盡量置于試驗柜中央試件與柜壁>15cm。
2. 試件與試件>15cm，試驗柜與試件體積之比 > 5:1。
3. 生熱之試件,若使用空氣對流盡量保持zui小之流速。
4. 試件應以無包裝，夾具應使用具高熱傳導之特性。
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